MEB de table SH-5000M

MEB SH-5000M

Fort grossissement au-delà de la limite optique

  • Agrandissement max. 100 000x
  • Détecteur SE (Option - Détecteur ESB)
  • Tension d'accélération variable de 1kV à 30kV
  • Mode multi-vide - Standard / Réduction de la charge
  • Observation de l'image prête en 2 min.
  • 5 axes - X,Y,R, Z, T
  • Ouverture variable à 4 trous (30/50/100/200µm)
  • Options - système EDS, étape de refroidissement, contrôle du vide poussé

Facilité d'utilisation : les échantillons non conducteurs peuvent être observés sans revêtement

  • Fonctions d'auto-ajustement
  • Le système peut être prêt dans les 2 minutes suivant l'échange de l'échantillon
  • Compact et flexible
  • Interface graphique conviviale

Images de haute qualité

  • Résolution d'image jusqu'à 5 mégapixels
  • Bonne profondeur de champ
  • Compatibilité de plusieurs formats d'images
  • Mesure à l'écran : distance, angle...etc.