MEB de table SH-4000M
MEB SH-4000MB
Fort grossissement au-delà de la limite optique
- Agrandissement max. 60 000x
- Détecteur de SE et détecteur d'ESB - Multi Mode
- Tension d'accélération variable de 1kV à 30kV
- Mode multi-vide - Standard / Réduction de la charge
- Observation de l'image prête en 2 min.
- Pas à 3 axes - X,Y,R
- Options - Système EDS, phase de refroidissement
![](https://hirox-europe.com/wp-content/uploads/2019/07/sh-4000m-3-min-e1569510325568.jpg)
![](https://hirox-europe.com/wp-content/uploads/2019/09/BSE-SE.jpg)
Facilité d'utilisation : les échantillons non conducteurs peuvent être observés sans revêtement
- Fonctions d'auto-ajustement
- Le système peut être prêt dans les 2 minutes suivant l'échange de l'échantillon
- Compact et flexible
- Interface graphique conviviale
Images de haute qualité
- Résolution d'image jusqu'à 5 mégapixels
- Bonne profondeur de champ
- Compatibilité de plusieurs formats d'images
- Mesure à l'écran : distance, angle...etc.