Nano Point Scanner

quand la microscopie fusionne avec la métrologie

Le NPS est un capteur confocal à lumière blanche combiné à une table motorisée de haute précision.
Il permet de mesurer une altitude submicronique sur tout type de surface sans aucun contact avec l'échantillon.

HIROX NPS JYFEL

Profil haute vitesse (scan 1 axe)

En déplaçant l'échantillon avec la table XY motorisée de haute précision sur un axe, le NPS acquiert une série de points focalisés à un intervalle choisi, créant ainsi un profil rapide : la mesure de la hauteur, de la distance, du rayon, de la rugosité des lignes (Ra, Rz, Rt,...) et bien plus encore peut être effectuée en quelques secondes !

Surface haute résolution (scan 2 axes)

En créant une série de profils alignés, le NPS acquiert des informations en X,Y et Z générant ainsi une surface 3D haute résolution : volume, rugosité de surface (Sa, Sz,…), forme complexe, ondulation 3D et bien plus encore. La durée du scan dépendra du nombres de lignes, de la vitesse d’acquisition choisie et des dimensions de l’échantillon !

Fonctionne sur tout type de surface

NP3 JYFEL


Le système confocal génère un plan d'observation très précis. Les points situés au-dessus ou en dessous de la surface de l'objet sont complètement flous, de sorte que le type de matériau n'a pas d'importance : l'échantillon peut être transparent, brillant, réfléchissant ou rugueux, il peut être opaque ou complètement transparent.

Mesure certifiée ISO

ISO 25178-602

ISO 25178-602 : La technologie confocale à lumière blanche pour la mesure de la rugosité a obtenu la certification ISO. Cette technologie est actuellement utilisée par plusieurs sociétés et centres de recherche à travers le monde. Le NPS permet de générer des mesures haute précision en X,Y et Z, bien au-delà des possibilités de la microscopie optique.

3D view + 3D profile Watch with NPS Confocal Scanner

Mesure confocale à lumière blanche

Le NPS est un profilomètre 3D confocal sans contact innovant qui mesure l’altitude en temps réel, permettant la création d’un profil ou d’une surface :

  1. Le faisceau de lumière blanche LED est projeté à travers un séparateur de faisceaux
    et une lentille chromatique sur la surface de l’échantillon
  2. Le rayon de lumière reflété depuis l’échantillon est filtré dans un
    orifice confocal, isolant une seule longueur d’onde dans un focus parfait
  3. Le spectromètre du NPS traduit cette longueur d’onde
    de façon très précise en une information d’altitude puis l’affiche dans un logiciel dédié
  4. Jusqu'à 2000 informations sur la hauteur par seconde sont acquises en créant un profil en temps réel lors du déplacement de la table XY

        Vous pouvez choisir entre deux modes : Profil ou Surface

Un large éventail de capacités de mesure

En combinant des mesures de haute précision avec des logiciels de métrologie avancés, le NPS répondra à toutes vos exigences en matière de métrologie

PROFILE & MULTI PROFILE

Les mesures de profil sont extrêmement rapides : après l’acquisition de plusieurs milliers de points en quelques secondes, le NPS va permettre de mesurer la distance en X et en Z entre deux points définis, ainsi que le max/min en Z et la rugosité Ra, Rz, Rt.
Pour des mesures plus avancées, cliquez sur le rapport Hirox Map prédéfini désiré dans le menu NPS. Avec la nouvelle fonction programmable multi-profil, exécutez simplement plusieurs profils individuels combinés avec un seul rapport.

SHAPE & FORMS

La forme et la géométrie de la surface peuvent être facilement mesurées : sur un objet sphérique, les résultats de la mesure d'une courbure peuvent être comparés aux spécifications de fabrication par exemple. D'autres formes telles que les lignes, les plans, les sphères, les cylindres ou les formes libres sont des objets typiques que le NPS peut mesurer : longueur, hauteur, rayon, angle, volume et bien plus encore. Avec de grandes plages de mesure allant jusqu'à 4000 micromètres, différentes formes peuvent être saisies et mesurées.

FLATNESS, WAVINESS & COPLANARITY

Distorsion, déformation, ondulation ou planéité sont faciles à mesurer sur de larges zones avec le Nano Point Scanner. Grâce à la table XY pouvant aller jusquà 500x500mm, il est possible de mesurer les défauts qui peuvent apparaître à cause d’une machine ou d’une anomalie de travail, d’un stress résiduel, de vibrations ou d’un traitement de chaleur par exemple.

La mesure de coplanarité requiert également de longues distances et un haut niveau de précision en Z.
Elle est désormais possible grâce au scan d’un profil ou d’une surface

ROUGHNESS, TEXTURE & DEFECTS

La métrologie des surfaces détermine la topographie de la surface.
Elle est essentielle pour confirmer la pertinence d'une surface pour sa fonction. La mesure de la surface comprend le profil de rugsité (Ra), la rugosité de surface (Sa), la texture de surface, l'aspérité et la caractérisation structurelle.

Pour la fabrication et la conception, la mesure est essentielle pour s'assurer que le matériau fini répond aux spécifications de conception.

Les capteurs NPS

Les capteurs adaptés à vos besoins

Selon votre application, vous pouvez sélectionner les capteurs les plus adaptés à vos besoins : une petite plage de mesure pour une précision et une rugosité maximales ou une grande plage de mesure pour des échantillons et des formes de grande taille.

NP1
NP2
NP3
NP4
NP5
NP6
NPX-1
NPX-2
NPX-6
Amplitude de mesure
150 μm
400 μm
1400 μm
4000 μm
12000 μm
24000 μm
1000 μm
2000 μm
6000 μm
Distance de travail
3,3 mm
10,8 mm
12,2 mm
16,5 mm
26,6 mm
20 mm
18,5 mm
19,2 mm
13,7 mm
Pente maximale de l'échantillon
42°
28°
25°
21°
14°
8.5°
44°
42°
32°
Résolution latérale
1,3 µm
1,7 µm
2,6 μm
7 μm
11 μm
11 μm
2,5 µm
3,8 µm
5,2 µm
Précision de hauteur*
76 nm
169 nm
500 nm
1195 nm
3350 nm
6850 nm
334 nm
675 nm
1750 nm
Adapté à la rugosité
OUI
OUI
OUI
NON
NON
NON
OUI
OUI
OUI

*La précision de hauteur dépend de la précision de la table XY (merci de prendre contact avec nous pour en savoir plus)
Plus de capteurs NPS sont disponibles - offrant d'autres distances de travail, gammes de mesure et possibilités d'inspection !

Un système de mesure et de rapport performant

Utilisant les logiciels de métrologie les plus avancés, le système NPS vous permet de faire des rapports avec des mesures précises de la manière la plus simple

Profitez du meilleur logiciel de métrologie

La technologie Digital Surf est la solution
de métrologie la plus avancée sur le marché :

  • Imagerie en temps réel de la topographie de surface en 3D
  • Superposition de surfaces 3D pour une localisation rapide des éléments : combinaison des couleurs de hauteur et des images d'intensité du NPS
  • Retrait des données d'acquisition et des échantillons d'artefacts
  • Extraction de la surface, correction du niveau, correction de la forme
  • Suite complète de mesures sur les profils et les données 3D avec
    la traçabilité des utilisateurs et des processus

Génération de rapports facile et rapide

  • Intégration simple dans les environnements de laboratoire et de production ; exportation de tous les résultats numériques.
  • Publication facile - exportation des documents d'analyse, pages
    et images individuelles jusqu'à 1200 dpi.

Analyses automatiques

De puissants outils d'automatisation assurent une productivité élevée : des séries de données de surface peuvent être analysées automatiquement et des séquences communes d'étapes d'analyse peuvent être enregistrées pour insertion dans tout document d'analyse futur.

Des critères de réussite ou d'échec (pass/fail) peuvent être spécifiés pour n'importe quel paramètre et des signaux verts (réussite) / rouges (échec) sont automatiquement affichés sur le rapport.
Tous les résultats peuvent être extraits au format CSV / Excel

Applications illimitées